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xray檢測(cè)
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電子制造檢測(cè)的**——x-ray
發(fā)布時(shí)間:2020-10-31 09:00:00

在電子設(shè)備的高科技應(yīng)用場(chǎng)景中,大規(guī)模集成電路封裝受到了廣泛的關(guān)注。一些大型集成電路封裝具有巨大的功能,并且與外部的連接數(shù)量多達(dá)數(shù)百個(gè),在芯片底面上幾平方厘米到幾十平方厘米,有規(guī)則地密集分布的連接線節(jié)點(diǎn)。這種帶有許多密集連接線的表面安裝元件安裝在PCB板上,以形成具有相應(yīng)功能的應(yīng)用電路。在這種情況下,除了外圍之外,人眼無法觀察到組件與PCB板之間的節(jié)點(diǎn)。但是,在實(shí)際的生產(chǎn)實(shí)踐中,不同節(jié)點(diǎn)的質(zhì)量不能完美。每個(gè)點(diǎn)焊都可能具有各種鑄造缺陷(例如橋接,虛焊,焊球,潤(rùn)濕不足等),這種可能性將嚴(yán)重影響電路的穩(wěn)定性。


基于這種肉眼看不見的類型,使用光學(xué)顯微鏡,目測(cè),激光紅外等檢測(cè)方法是無奈的。因此,如果您想了解電焊后這種類型電路的真實(shí)情況,則需要選擇具有穿透非透明材料能力的X-ray透視成像技術(shù)進(jìn)行射線照相檢查。 X射線具有很強(qiáng)的穿透性。X射線透視圖可以清晰顯示點(diǎn)焊厚度,形狀和質(zhì)量的補(bǔ)償分布,可以充分反映點(diǎn)焊的焊接質(zhì)量,并可以進(jìn)行定量分析。


X射線(以下稱為X射線)利用陰極射線管產(chǎn)生與金屬靶碰撞的高能電子。在碰撞過程中,由于電子的突然減速,失去的動(dòng)能將以X射線的形式釋放。波長(zhǎng)短,但電磁輻射高。對(duì)于無法用肉眼檢測(cè)到樣品的位置,將記錄X射線穿透不同密度材料后的光強(qiáng)度變化,并且可以使用由此產(chǎn)生的對(duì)比效果來形成圖像以顯示待測(cè)對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。當(dāng)測(cè)試對(duì)象被破壞時(shí),觀察測(cè)試對(duì)象內(nèi)部的問題區(qū)域。


主要應(yīng)用:

IC封裝中的缺陷檢查包括:層剝離,破裂,空隙和鍵合完整性檢查。

印刷電路板制造過程中可能存在的缺陷,例如:對(duì)齊不良或橋接和開路。

SMT焊點(diǎn)空洞現(xiàn)象的檢測(cè)與測(cè)量。

檢查各種連接線上可能出現(xiàn)的開路,短路或異常連接的缺陷。

焊球陣列封裝和芯片級(jí)封裝中焊球的完整性檢查。

檢查高密度塑料材料的裂縫或金屬材料的空隙。

芯片尺寸測(cè)量,電弧測(cè)量,元件錫面積比測(cè)量。


X射線檢測(cè)


         X射線檢測(cè)速度快,效率高,成本低,并且不會(huì)損壞樣品。它是測(cè)試的**,隨著創(chuàng)新技術(shù)的發(fā)展,超高分辨率的自動(dòng)X射線檢查設(shè)備不僅為組裝BGA組件提供了省時(shí),無憂,可靠的保證,而且在電子設(shè)備的常見故障分析中也起著關(guān)鍵作用, 提高常見故障檢查效率。





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